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Written by Super User.
- Laboratory services
- Mechanical tests and metallography
- Metallographic sample preparation (cutting, assembly, roughing, and polishing)
- Metallographic sample preparation (cutting, grinding, and polishing)
- Metallographic sample preparation (grinding and polishing)
- Assembly of samples in resins
- Testing of mechanical tests: tension, compression and bending in universal machine
- Pressing powders
- X-ray diffraction
- Thermal analysis
- Services by DSC
- Thermal behavior (one linear sweep) ambient temperature range RT to 450 ° C
- Thermal behavior (one linear sweep) ambient temperature range RT from -65 ° C to 700 ° C
- Vitreous transition (heating-cooling-heating cycle)
- Heat capacity by the sapphire method in temperature segments no greater than 200 ° C (white, sapphire, sample)
- ADSC in a temperature range not higher than 100 ° C (white, calibration, sample)
- Thermal stability in inert atmosphere
- Oxidation in air or oxygen rich atmosphere
- Measurement of thermal diffusivity from room temperature to 1100 ° C by Thermal Flash laser, for each temperature and intervals of 100 ° C
- Thermal diffusivity by Flash Laser at room temperature
- Measurement of thermal conductivity at room temperature
- Measurement of thermal conductivity by temperature at intervals of 100 ° C to 1100 ° C (for each temperature)
- Density measurements using the Archimedes method
- Propiedades ópticas
- Análisis por Uv vis (obtención de espectros de absorción)
- Análisis por microscopía Raman
- Obtención de espectros de emisión por flourescencia UV - Vis, no incluye preparación de muestra
- FTIR utilizando las técnicas de Transmisión y Reflectancia Totalmente Atenuada (ATR) con punta de diamante
- Análisis de espectroscopía infrarroja (Reflectancia difusa, especular, reflexión totalmente atenuada y transmisión en el medio y cercano infrarrojo)
- Microscopia infrarroja (incluye preparación de equipo)
- Cromatografía de gases
- Análisis Químico ICP-EOS
- Microscopía electrónica
- Análisis químico elemental cuantitativo por WDS, usando Microsonda electrónica de barrido Mca Jeol
- Microanálisis semicuantitativo por espectrometría de energía dispersiva de rayos X (EDS) en ESEM
- Micro-XRF micro-fluorescencia cuantitativa de rayos X en microscopio electrónico de barrido SEM
- Micrografías por medio de FE-SEM
- Preparación de muestra con haz de iones para FE-SEM, en sección transversal de recubrimientos o películas
- XPS
- Espectroscopía de fotoelectrones por rayos-X en materiales con compatibilidad en ultra-alto vacío (UHV): Polvos, películas delgadas, polímeros, cerámicos, etc. incluye el ajuste de los datos por picos
- Espectroscopía de fotoelectrones por rayos-X en materiales con compatibilidad en ultra-alto vacío (UHV): Polvos, películas delgadas, polímeros, cerámicos, metáles, etc. incluye el ajuste de los datos por picos y análisis de composición
- Espectroscopía de fotoelectrones por rayos-X con resolución angular (ARXPS) en películas conformes y superficies planas con compatibilidad en ultra-alto vacío (UHV), incluye ajuste por picos
- Espectroscopía de fotoelectrones por rayos-X con resolución angular (ARXPS) en películas conformes y superficies planas con compatibilidad en ultra-alto vacío (UHV), incluye ajuste por picos y análisis de composición en función de la profundidad (máximo 8 nm).
- Perfilometría
- Pruebas de dureza, módulo de elasticidad y rasgado a micro y nanoescalas con nanoindentador de diamante (Berkovich, Vickers, Knoop)
- Microscopía de fuerza atómica con modos convencionales de contacto y tapping, y modos no convencionales como piezo-respuesta PFM, sonda Kelvin por KPFM, mapeo de módulo de elasticidad por AFAM y nanofricción por LFM
- Perfilómetro 3D para medición de rugosidad de superficie y espesores de películas delgadas
- FTIR
- Análisis de Espectroscopía Infrarroja Medio Infrarrojo: Reflectancia Difusa, Reflectancia Especular con Angulo Variable con y sin Polarizador KRS-5, Reflectancia Totalmente Atenuada con Punta de Diamante/ZnSe con Calentamiento y Transmisión).
- Análisis de Espectroscopía Infrarroja Cercano Infrarrojo: Reflectancia Difusa, Reflectancia Especular con Angulo Variable con y sin Polarizador KRS-5 y Transmisión).
- Microscopía infrarroja (incluye preparación de equipo).
- Otros